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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:低壓漏電起痕試驗設(shè)備

  • 產(chǎn)品型號:HCLD-2
  • 產(chǎn)品廠商:華測
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簡單介紹:
低壓漏電起痕試驗設(shè)備采用計算機控制,通過人機對話完成固體絕緣材料在低壓電場和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力。設(shè)備具備數(shù)據(jù)數(shù)顯、存儲功能、過流保護、過壓保護和門限保護功能。試驗設(shè)備被廣泛應(yīng)用于電工電子、電器、半導(dǎo)體封裝和信息技術(shù)設(shè)備等領(lǐng)域,并用于電機等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆,以及層壓板等絕緣材料的耐電弧性能測試。
詳情介紹:

低壓漏電起痕試驗設(shè)備

產(chǎn)品介紹

華測低壓漏電起痕試驗設(shè)備采用計算機控制,通過人機對話完成固體絕緣材料在低壓電場和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力。設(shè)備具備數(shù)據(jù)數(shù)顯、存儲功能、過流保護、過壓保護和門限保護功能。

廣泛應(yīng)用于電工電子、電器、半導(dǎo)體封裝和信息技術(shù)設(shè)備等領(lǐng)域,并用于電機等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆,以及層壓板等絕緣材料的耐電弧性能測試。

產(chǎn)品概述

耐漏電起痕試驗(電痕化指數(shù)試驗)是根據(jù) UL746A 、IEC60112 、IEC60335、IEC884-1、 GB2099.1、GB/T4207、GB4706.1 ASTMD 3638-92 等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬仿真試驗項目。耐漏電起痕試驗(電痕化指數(shù)試驗)是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間,施加某一電壓并定時 (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH4CL) ,用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能,測定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應(yīng)力和電解雜質(zhì)的聯(lián)合作用下,在表面(或內(nèi)部)產(chǎn)生導(dǎo)電通道。

應(yīng)用領(lǐng)域

公司介紹

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