華測高溫介電測試儀介紹
華測高溫介電測試儀
產(chǎn)品概述
1、除去電網(wǎng)諧波對采集精度的影響目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備，將對電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過程中影響弱信號的采集精度，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新特殊參數(shù)分析技術(shù),實現(xiàn)了高達120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導(dǎo)體功能材料和納米器件的測試需求。
2、除去不規(guī)則輸入的自動平均值功能，更強數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽
華測系列阻抗分析儀是華測儀器電子事業(yè)部采用當前***自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，為國產(chǎn)阻抗測試儀器的新高度。在測量10Hz-50MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺點；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。得益于***自動平衡電橋技術(shù)，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以確保0.05%的基本精度。快達5ms的測試速度及高達50M的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效除去測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴展了十倍。
3、溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量，并參考A.S.T.M 標準。其重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的準確度，同時抗干擾能力更強。搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。在過壓、過電流、超溫等異常情況下確保測試過程的**，高溫介電測試儀的資料保存機制在電腦異常時瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動后可恢復(fù)原有試驗數(shù)據(jù)。
4、專用高頻測試線纜，更適合高頻測量
測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試專用測試線，設(shè)計兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。
產(chǎn)品優(yōu)勢
目前國內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，主要原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫過程速度慢，效率低。也無法實現(xiàn)溫度的高精度測量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實現(xiàn)高精度，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱及高速冷卻時，具有良好的溫度分布?？蓪崿F(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻，用石英管保護加熱試樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵?，高純度氣體中加熱。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐，溫度斜率爐，階段加熱爐。 它提高了加熱試驗?zāi)芰?。同電阻爐和其他爐相比，紅外線反射爐節(jié)省了升溫時間和保持時間及自然冷卻到室溫所需時間，在試驗中也可改寫設(shè)定溫度值。從各方面講，都節(jié)省試驗時間并提高實驗速度。同高頻爐相比，不需特殊的安裝條件及對加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡單，有冷卻系統(tǒng)**可靠。以提高試驗人員的工作效率，實現(xiàn)溫度控制操作！
華測高溫介電測試儀的優(yōu)勢：
溫度高精度控制
近紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以準確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實現(xiàn)快速冷卻。
不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體靜態(tài)或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。
